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称重法颗粒分析
通过称重,获取颗粒的总质量是相当简单的。也就是只需称出过滤膜在过滤前和过滤后的重量,两者之间的差异就等于颗粒的总质量。为了得到正确的结果,对过滤膜进行前处理是非常重要的。通常的将膜浸入萃取液中,然后在烘箱中干燥,后储存在预先设置好时间的干燥器中。请注意,在技术上是很难去量化颗粒质量小于3mg的颗粒。因此要求一个的天平和一间环境条件恒定的房间。如果重量要求严格,则建议一大批样品仪器测试。
粒度式颗粒分析
新VDA-19标准已经认可简化粒子分析的仪器如光学扫描仪的发展趋势。在修订过程中,VDA-19工作组将多家自动化光学显微镜与MicroQuickTM颗粒清洁度扫描仪进行了循环测试的考验。这种比较的目的是简历一套仪器参数,可针对结果进行更好对比。测试结果发现,通过以一致的方式调节照明水平和颗粒检测阈值,所得到的定量结果几乎一致。关于粒度标准分析,光学显微镜和平板扫描仪被认为是可以同等的一句新的VDA-19(图五)提到的程序工作。
涉及行业领域:发动机、航空、半导体、数据存储、医疗设备、通讯、精密仪表,大型工矿设备的磨损监测等领域
主营行业:检测服务 |
公司主营:零件清洁度测,可靠性及量测,声压级声功率检测,材料检测--> |
主营地区:深圳、昆山、成都、武汉、烟台、郑州等 |
企业类型:有限责任公司 |
公司成立时间:1996-01-01 |
员工人数:1000 人以上 |
研发部门人数:201 - 300 人 |
经营模式:服务型 |
经营期限:1949-01-01 至 2032-01-01 |
最近年检时间:2022年 |
是否提供OEM:否 |
公司邮编:215300 |
公司电话:0512-57785888-76633 |
公司邮箱:youerhx_ksmarket@126.com |
公司网站:cmc.foxconn.com |
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