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电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区易发生PID现象。
SNI光伏组件标准：SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第1部分 测试要求
SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第2部分 测试程序
SNI IEC 61215-1:2016 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 第1-1部分 晶体硅组件测试要求
过渡期
2021年1月7日-2022年1月6日，也就是2022年1月7日前晶体硅组件获得印尼SNI认证。
1) 在法规生效前已被用户使用的晶体硅光伏组件产品不在法规要求范围内。
2) 在2021年1月7日之前在市场通并已获得IEC61215证书的晶体硅光伏组件，在2022年1月7日之前根据法规要求重新获得SNI认证。
3) 在2021年1月7日之后在市场通的晶体硅光伏组件应在2022年1月7日前满足法规的SNI要求。
| 主营行业：太阳能电池板 |
| 公司主营：拆卸太阳能,库存太阳能,抵债太阳能组件,积压太阳能组件 |
| 采购产品：拆卸太阳能组件 |
| 主营地区：江苏.徐州 |
| 企业类型：个体经营 |
| 公司成立时间：2020-07-21 |
| 经营模式：贸易型 |
| 公司邮编：221200 |
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