关键词 |
天瑞光谱测厚仪,x荧光金属镀层测厚仪 |
面向地区 |
电源电压 |
220v |
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X荧光镀层测厚仪是一种利用X射线荧光原理测量材料表面镀层厚度的仪器。其原理如下：
1. X射线照射：仪器通过产生X射线，将其照射到待测镀层表面。
2. 荧光发射：X射线照射到镀层表面后，会激发镀层中原子的电子跃迁，使其发生荧光发射。不同原子的荧光发射能谱是不同的，可以通过检测荧光发射的能谱来确定镀层中不同元素的含量。
3. 测量：根据镀层中不同元素的荧光发射能谱及其强度，可以计算出镀层的厚度。
通过这种原理，X荧光镀层测厚仪可以快速、准确地测量各种类型的镀层厚度，是一种常用的表面分析仪器。
X荧光光谱膜厚测试仪是一种用于测量薄膜或涂层厚度的仪器。它通过分析材料上的荧光光谱来确定薄膜或涂层的厚度，从而提供了非破坏性且的厚度测量方法。
这种测试仪通常使用X射线或其他类型的辐射来激发样品表面的荧光。通过测量不同波长下的荧光强度，可以确定薄膜或涂层的厚度。这种技术适用于各种材料，包括金属、聚合物、涂料等。
X荧光光谱膜厚测试仪具有快速、、非接触性和高灵敏度的特点，广泛应用于制造业、材料研究、化工等领域。它可以帮助用户监测产品质量、优化生产工艺，并提高生产效率。
